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MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-07-03

簡要描述：

德國EPK MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的精確性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭

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     德國EPK MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀

MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

 

 

德國EPK MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀主機(jī)


型號(hào)
特性 		MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探頭類型 內(nèi)置 外置 內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) 1010100
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 最多10,000個(gè) 最多10,000個(gè) 最多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值 讀值個(gè)數(shù)，最小值，最大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控 聲、光報(bào)警提示超過極限
測(cè)量單位 um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度 -10℃-60℃
存放溫度 -20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口 IrDA 1.0（紅外接口）
電源 2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 約175g 約210g 約175g（內(nèi)置）/230g（外置）

技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭

 


探頭
特性 		F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5F2F5，N2.5，F(xiàn)N5F15
FNFFNF
測(cè)量范圍 0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范圍 小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用 粗糙表面 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 厚涂層
測(cè)量原理 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng) 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng)
信號(hào)處理 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
精確度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率 0.05μm0.1μm1μm
最小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm
最小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） 30mm 30mm 30mm
最小測(cè)量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
最小基體厚度 0.3mm 40μm0.5mm 0.5mm 40μm1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度 每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下最大測(cè)量速度 每分鐘70個(gè)讀數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)配置：                                                                                                   
帶塑料手提箱，內(nèi)含：                                                                                 
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池

 建議配件:
 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架 

 

 

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