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B1S-EN探頭

產(chǎn)品時間：2024-07-08

簡要描述：

德國KK美國GE超聲波探頭貝克休斯B1S-EN探頭，B1S探超聲波探頭，用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件、金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料、板材、棒材、方形材、容器、機器零件、殼體

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B1S-EN探頭


B..S系列


A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm


系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

BS

B1S-EN

1

側(cè)裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5



















B1S-EN探頭應(yīng)用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

特點

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）



B1S-EN探頭

B1S-EN探頭


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